[產品資訊] High Resolution Wavefront Sensors 高解析波前分析儀

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★ 產品特點：

• 採用QuadriWave Lateral Shearing Interferometry (QWLSI)，技術遠優於傳統Shack-Hartmann及Hartmann量測法
• 提供高解析160×120量測點，最高可至400×300點
• 可直接測量發散光與準直光束
• 不需複雜光路校準程序、震動影響低
• 高動態範圍、可直接量測優點
•  波長範圍190nm~14um皆有適用機款供選擇

★ 應用領域：

1. 雷射光束量測/雷射光路校準
2. 光學波前扭曲修正/雷射焦點光斑優化
3. 光學鏡片量測
4. 眼科應用(人工水晶體/隱形眼鏡光學品質控制)
5. 生物細胞影像
6. 顯微影像應用

分析軟體介面

High resolution wavefront sensor

Lens, assembly & mirror testing

Complete characterization based on high resolution wavefront measurement

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